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晶圆缺陷检测设备(AOI)
晶圆缺陷检测设备(AOI)

应用场景

针对晶圆来料过程、出货检查,可检刮伤、污渍、剥落、破碎等不同缺陷;并以面积长、宽、大小比率、特定灰度值、特定坐标进行分类。

产品优势

  • 操作简单:搭载 AI 检测方案,简化测试操作
  • AI 复判缺陷:AI ADC 自动化复判缺陷
  • 适配度高:全套自研算法,可配合高度客制化
  • 定制整合:可依客户需求整合量测功能
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项目 技术参数
晶圆尺寸 4/6/8/12 inch & 300/310mm 方片
分辨率 2.25um@2X, 0.9um@5X, 0.45um@10X
复检倍率 10倍、20倍
检测能力 检测重复性>98.5%、检测率>99%、过筛率<0.5%
光学类型 LED亮场+暗场微观与复检包含红、蓝、绿、白光源进行切换
检测速度 81@2x(200mm)/42@5x (200mm)/17@10x (200mm)/5@20x (200mm)(含100张Review)
缺陷类型 划伤、脏污、剥落、破洞、裂纹、圈印、斑点等

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